Revolução na microscopia: a nova tecnologia resolve nanoestruturas na velocidade da luz!

Revolução na microscopia: a nova tecnologia resolve nanoestruturas na velocidade da luz!

Quanten, Deutschland - O que há de novo no mundo da microscopia e do processamento da imagem? As inovações tecnológicas nessas áreas mostram mais uma vez que a ciência aumenta. Um tópico particularmente emocionante é o desenvolvimento adicional do processamento de imagens de super-resolução (SR), que desempenha um papel, especialmente na tecnologia de semicondutores e no exame de amostras complexas. Um exemplo disso é o SAM C (microscopia acústica de varredura), que fornece resultados muito promissores na análise de dados. De acordo com natureza , essa tecnologia é usada para se concentrar em pulsos acústicos em material de amostra e, assim, obter informações sobre estruturas e defeitos.

A tecnologia permite que as ondas acústicas sejam controladas para que as imagens de alta resolução sejam geradas. O aplicativo para duas amostras que usam diferentes tecnologias de integração 3D é particularmente fascinante. A primeira amostra consiste em um silício não estruturado totalmente metalizado em um substrato de vidro, com um recesso de dobra de íons na superfície da wafer. A segunda amostra compreende 10.240 VIAS de silício (TSVs), que são analisados ​​em detalhes com um arranjo de explosão de tonelada. As resoluções direcionadas foram escolhidas para a imagem para maximizar a eficiência da coleta de dados.

Qualidade da imagem e aprendizado de máquina

Aqui o aprendizado auto -monitorado entra em cena! Os pesquisadores treinaram várias arquiteturas de SR baseadas em ML para melhorar ainda mais a qualidade da imagem. O objetivo é superar os limites de tempo para varreduras de alta resolução e, ao mesmo tempo, oferecer resultados de alta qualidade. O uso de métricas como PSNR e SSIM mostra que o modelo DCSCN baseado em CNN tem a frente em muitas aplicações. Até excede modelos generativos como Sr-Gan e Indi.

Outro aspecto emocionante dessa tecnologia é a análise de erros. O modelo DCSCN é aplicado à amostra eutética de wafer, a fim de aumentar a precisão da segmentação. Várias classes são analisadas aqui, incluindo laços intactos e camadas Delamed. Graças ao modelo DCSCN, foram alcançadas melhorias significativas que são de grande importância no uso prático.

Progresso na microscopia

Mas não o suficiente! Outro progresso importante na microscopia é a técnica de super-resolução sem marcadores, que foi recentemente apresentada por uma equipe de pesquisadores. Isso pode revolucionar a investigação de amostras complexas, pois não requer corantes ou marcas. analica é baseado na nova abordagem na abordagem da laser. parâmetros com precisão.